描述
TX 2000，配备了自动主光束切换系统(MoKa, WLa/Lb和轫致辐射33kev)，硅漂移探测器和高功率x射线管是应用于环境、化学和核领域的最佳解决方案。
TXRF基于与传统x射线荧光(XRF)相同的原理，最大限度地或完全消除基质效应，允许同时进行多元素超痕量分析，并将仪器检测极限降低到从钠到钚的ppb范围。
TX 2000主要特点
- TXRF和EDXRF(传统45°几何)光谱在同一设备。
- 步进电机与光学编码器确保极其精确的角度值。
- 基于创新软件，采用双阳极钼钨x射线管自动切换主光束(MoKa, WLa/Lb和轫致辐射33kev)。我们使用高反射率80% (WLa/Lb/MoKa)多层膜来选择所需的能量。我们也可以选择其他的x射线管和单色化你需要的能量。
- 能量分辨率为124eV的peltier冷硅漂移探测器(电子邮件保护)(成型时间1ms)
- 样品和检测器之间的最小距离(安装在与样品平面垂直的轴上)。
- 仪器检测限制超过50个元素低于10 pg。
- 氦气装置提高了轻元素的检出限。
- 优秀的检出限(ppt)范围广泛的元素
- 没有矩阵效应
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