描述
TX 2000配备了自动主波束切换系统(MoKa, WLa/Lb和轫致辐射33kev)，一个硅漂移探测器和一个高功率x射线管是环境、化学和核领域应用的最佳解决方案。
TXRF基于与传统x射线荧光(XRF)相同的原理，最小化或完全消除基质效应，允许同时进行多元素超痕量分析，并将仪器检测极限降低到从钠到钚的ppb范围内。
TX 2000主要特点
- TXRF和EDXRF(传统45°几何)光谱在同一设备。
- 步进电机与光学编码器，确保极其精确的角度值。
- 基于创新软件的双阳极Mo/W x射线管主束(MoKa, WLa/Lb和brstrastrah33kev)自动切换。我们使用高反射率80% (WLa/Lb/MoKa)多层膜来选择所需的能量。我们也可以选择其他的x光管和单色化你需要的能量。
- 能量分辨率为124eV的pelier冷却硅漂移探测器(电子邮件保护)(成型时间1ms)
- 样品和检测器之间的最小距离(安装在与样品平面垂直的轴上)。
- 仪器检测极限超过50种元素低于10 pg。
- 氦气装置，提高轻元素的检出限。
- 优秀的检测限(ppt)广泛的元素
- 没有矩阵效应
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