gnrtx 2000

TXRF和EDXRF在同一台设备

TX 2000是使用全反射x射线荧光(TXRF)原理进行定量多元素痕量分析的最先进的实验室光谱仪。

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的名字

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描述

TX 2000配备了自动主波束切换系统(MoKa, WLa/Lb和轫致辐射33kev),一个硅漂移探测器和一个高功率x射线管是环境、化学和核领域应用的最佳解决方案。

TXRF基于与传统x射线荧光(XRF)相同的原理,最小化或完全消除基质效应,允许同时进行多元素超痕量分析,并将仪器检测极限降低到从钠到钚的ppb范围内。

TX 2000主要特点

  • TXRF和EDXRF(传统45°几何)光谱在同一设备。
  • 步进电机与光学编码器,确保极其精确的角度值。
  • 基于创新软件的双阳极Mo/W x射线管主束(MoKa, WLa/Lb和brstrastrah33kev)自动切换。我们使用高反射率80% (WLa/Lb/MoKa)多层膜来选择所需的能量。我们也可以选择其他的x光管和单色化你需要的能量。
  • 能量分辨率为124eV的pelier冷却硅漂移探测器(电子邮件保护)(成型时间1ms)
  • 样品和检测器之间的最小距离(安装在与样品平面垂直的轴上)。
  • 仪器检测极限超过50种元素低于10 pg。
  • 氦气装置,提高轻元素的检出限。
  • 优秀的检测限(ppt)广泛的元素
  • 没有矩阵效应

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